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　　如果電子產(chǎn)品在 burst 和 ESD 脈沖測試中發(fā)生功能失效，那么被測設備（EUT）必須進行整改。
E1 開發(fā)系統(tǒng)被用于快速和精準的確定 EUT 內(nèi)功能失效的原因，這允許用戶直接在PCB板上進行故障定位。
　　SGZ 21 burst 發(fā)生器可以產(chǎn)生測試脈沖，這些脈沖通過導線連接或通過磁場或電場源被耦合到 EUT 中，在測試過程中，可以實時監(jiān)控工作信號。

　* Burst Generator SGZ 21
　* EMC Sensor S31 with OFP
　* Magnetic field probe MS 02
　* Magnetic field source BS 02
　* Magnetic field source BS 04 DB
　* Magnetic field source BS 05 D
　* Magnetic field source BS 05 DU
　* E-field source ES 00
　* E-field source ES 01
　* E-field source ES 02
　* E-field source ES 05 D
　* E-Field Source ES 08 D
　* Accessories
　* Instruction
　* Case with foamed plastic inset